Pesquisadores encontram falhas em chips sem fio

Um novo estudo do Prof. Avishai Wool da Escola de Engenharia Elétrica da Universidade de Tel Aviv encontraram sérias vulnerabilidades em chips que são inseridos em cartões smart, de crédito e de débito. As vulnerabilidades desse método eletrônico — e as falhas de informação privada contidas no chips — estão tornando-se mais sérias.

Artigo Completo:

http://www.sciencedaily.com/releases/2010/04/100415160141.htm

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